高分辨率光束成像系统(HRBIS)测量离子束,电子束和中性束的二维或三维强度分布

Beam Imaging Solutions HRBIS系统使高分辨率光束成像成为可能。HRBIS可用于测量离子束,电子束和中性束的二维或三维强度分布HRBIS还可以用于X射线成像,以用于针孔成像和光谱学等应用。使用微通道板(MCP)和荧光屏组合创建图像。荧光粉均匀地沉积在相干的光纤(FO)基板上,从而可以将图像光学传输到真空系统的外部进行分析。使用一系列FO导管将图像连贯地传输到真空视口,在真空视口中,可以用眼睛观察图像,或使用CID或CCD相机系统对其进行记录和处理。HRBIS系统有许多不同的配置以最适合客户的特定应用和预算。我们的报价单使您可以轻松地索取所需的配置价格。
HRBIS-11000型高分辨率光束成像系统如下所示。右图显示了HRBIS的标准相机转接环。环上有用于连接摄像机安装系统的螺纹孔,所有可选摄像机系统都提供该孔。


带挠性光缆耦合器的HRBIS-20034(远程系统)

带光纤杆耦合器的HRBIS-41024(标准系统)

HRBIS-11000型高分辨率光束成像系统如下所示。右图显示了HRBIS的标准相机转接环。环上有用于连接摄像机安装系统的螺纹孔,所有可选摄像机系统都提供该孔。


质量分离的离子束,显示出EXB Wien滤波器的边缘场。使用型号HRBIS-40034成像系统和型号IPS-1图像处理系统制作图像。图像约为36.4mm x 26.4mm。

质量分离的离子束,显示出EXB Wien滤波器的边缘场。使用型号HRBIS-40034成像系统和型号IPS-1图像处理系统制作图像。图像约为36.4mm x 26.4mm。